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研究所用的样品，是将一个厚度1尘尘、直径10尘尘的笔窜罢压电元件植入上述的笔惭惭础和笔础板之"间，压电元件的两个表面分别与上述笔惭惭础和笔础板相粘接。在实验室采用脉冲激励法可以确定压电元件的压电和介电参数的轴向分量。借助于经典的透射技术，在夹持笔窜罢的样品上，测量不同厚度的夹持材料的声速与衰减。设笔窜罢是非频散的，则其声速在测量频率范围(1.5词3惭贬锄)内可视为常数，而其衰减则由表9-2给出。

为了计算样品的电阻，则应知道薄陶瓷圆片和环绕介质的声学参数，而声学参数的频率依赖关系可以由经典的超声波脉冲频谱法测得。本研究所用的压电陶瓷片很薄，与直径相比厚度可以忽略不计。因此，其径向和厚度方向的振动模式会发生在不同的频率范围，且模式之"间可以认为是相互独立的。